步入式老化房
步入式老化房是針對高性能電子產(chǎn)品（如：機算機整機，顯示器，終端機，車用電子產(chǎn)品，電源供應(yīng)器，主機板、監(jiān)視器、交換式充電器等）仿真出一種高溫、惡劣環(huán)境測試的設(shè)備，是提高產(chǎn)品穩(wěn)定性、可靠性的重要實驗設(shè)備。該設(shè)備廣泛應(yīng)用于電源電子、電腦、通訊、生物制藥等領(lǐng)域。
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